開爾文探針系統

摘要 開爾文探針系統KelvinProbe可用于光電化學中,精確測量不同半導體和導電材料的功函數，精度高

摘要 開爾文探針系統KelvinProbe可用于光電化學中,精確測量不同半導體和導電材料的功函數，精度高

摘要 大面積掃描開爾文探針系統能夠在垂直方向移動開爾文探針實現電動控制開爾文探針與樣品的距離

摘要 這款大范圍掃描開爾文探針系統幫助用戶可以訪問從50mm到350mm的樣品的二維和三維功函數圖

摘要 我們的單點開爾文探針系統采用非零信號檢測方法對材料的功函數/費米能級進行非常高質量的測量

摘要 超高真空開爾文探針系統幫助用戶充分利用真空下的工作功能和接觸電位差（CPD）測量

摘要 一、產品介紹SKP5050系統是一款可以被大多數客戶所接收的掃描開爾文探針系統，它是在SKP基礎之上包括了彩色相機/TFT顯示器、2毫米和50微米探針、外部數字示波鏡等配置。二、產品參數

摘要 美國APT四線法開爾文探針夾具APT開爾文探針適用于四線法測試，以減小線阻和接觸電阻對測試的影響，提供小電阻的測試準確性。另外，一些高頻測試，比如150M左右，也可以采用這個。Currentleakage:150MHz

摘要 大面積掃描開爾文探針系統能夠在垂直方向移動開爾文探針實現電動控制開爾文探針與樣品的距離

摘要 這款大范圍掃描開爾文探針系統幫助用戶可以訪問從50mm到350mm的樣品的二維和三維功函數圖

摘要 我們的單點開爾文探針系統采用非零信號檢測方法對材料的功函數/費米能級進行非常高質量的測量

摘要 超高真空開爾文探針系統幫助用戶充分利用真空下的工作功能和接觸電位差（CPD）測量

摘要產品描述：單點開爾文探針 ...

摘要產品描述：氣氛控制開爾文探針 ...

摘要產品描述：超高真空開爾文探針 ...

摘要產品描述：掃描開爾文探針 ...