【儀表網(wǎng) 會議報道】2025年6月19-20日，國家自然科學基金委國家重大科研儀器研制項目(部門推薦)“寬禁帶半導體點缺陷的單體光電特性表征儀器系統(tǒng)”結題驗收會在長春順利召開。
國家自然科學基金委員會黨組成員、副主任江松，數(shù)理科學部副主任倪培根，綜合與戰(zhàn)略規(guī)劃處處長劉強，數(shù)學科學處處長趙桂萍，物理科學一處副處長姜向偉，項目依托單位中國科學院長春光學精密機械與物理研究所副所長黎大兵出席會議。項目驗收專家組長、浙江大學教授楊德仁，副組長、上海交通大學教授賈金鋒，以及技術測試專家、財務與檔案檢查專家等21位專家參與驗收。
會議由倪培根、楊德仁主持。開幕式上，江松首先致辭，介紹了國家重大科研儀器研制項目(部門推薦)整體情況，強調了國家重大科研儀器研制項目的科學導向和定位，要求項目組及依托單位長期做好儀器的維護和推廣工作，建立開放共享機制，并持續(xù)產生重大的科研成果。黎大兵介紹了本所對基礎研究工作的系列支持政策以及取得的成效，并代表依托單位對國家自然科學基金委及各位專家的支持表示衷心感謝。
隨后，與會專家聽取了項目負責人申德振研究員的項目工作報告、監(jiān)理組成員楊鑫研究員的監(jiān)理報告，以及儀器測試、財務驗收和檔案審查情況匯報，現(xiàn)場考察了儀器技術指標和運行狀況，詳細審閱了相關財務與檔案材料。經過深入的質詢討論，形成了技術測試、財務驗收和檔案審查報告，并對下一步工作提出了建設性意見。
該項目于2017年立項，2018年1月開始實施，經過7年多的潛心攻堅，研發(fā)了一套實現(xiàn)半導體表面下點缺陷單體關鍵物理參數(shù)的表征儀器系統(tǒng)，集成了STM針尖增強的拉曼光譜、發(fā)射光譜以及MBE材料生長設備，在多項核心技術上取得了突破，實現(xiàn)了半導體表面下點缺陷單原子(單鍵)級分辨的拉曼光譜成像與測量，促進了我國半導體點缺陷測試分析技術的發(fā)展。
國家自然科學基金委員會財務局機關財務處工作人員錢晨,數(shù)理科學部綜合與戰(zhàn)略規(guī)劃處項目主任熊霄，數(shù)理科學部物理科學一處流動項目主任董春華、應磊，長春光機所所長辦公室主任張童、副主任朱立祿，基礎科研處副處長陳惠穎，財務處副處長王紅鋒，綜合檔案室檔案主管景紅薇、趙響，以及項目組成員等40余人參加了會議。
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